به وب سایت آزمایشگاه مرکزی دانشگاه خلیج فارس خوش آمدید

تماس در ساعات اداری (شنبه تا چهارشنبه): 07731222629

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

بررسی توپوگرافی سطح نمونه‌ها با ابعاد نانومتری
    120,000 تومان
    به ازاء هر نمونه
    مدلBRISK
    کشور سازندهایران
    شرکت سازندهARA Research

    میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

    آنالیز میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscope (AFM، یک میکروسکوپ روبشی با توانایی تصویر برداری سه بعدی از سطوح مختلف و از پستی و بلندی های سطح (توپوگرافی سطحی) نمونه است که امروزه به خصوص در حوزه نانوساختارها بسیار مورد توجه قرار گرفته است. امتیاز این روش در مقایسه با آنالیز SEM، توانایی مناسب آنالیز AFM در اندازه گیری زبری سطح مخصوصاً زبری‌های نانو متری است. یکی از کاربرد‌های دیگر آنالیز AFM، اندازه گیری ضخامت پوشش‌های نانو متری است. این میکروسکوپ توانایی تصویر برداری از کلیه سطوح از جمله سطوح غیر رسانا را نیز دارد و در دو حالت تماسی و غیر تماسی تصویر برداری را انجام می دهد. در نتیجه برای درک ساختار سطحی یک نمونه توده ای نانوساختار مانند غشاها، لایه های نازک، قطعات الکتریکی لیتوگرافی شده، انجام آنالیز AFM بسیار تکنیک مناسبی است و امروزه در بسیاری از تحقیقات و مقالات مورد توجه قرار گرفته است. دقت تصویربرداری در این دستگاه 1/0 نانومتر است. شرایط نمونه: برای انجام آنالیز AFM نمونه‌ها باید ابعادی کوچکتر از 20 در 20 میلی‌متر و ضخامت کمتر از 5 میلی‌متر داشته باشد و به صورت فیلم یا لایه تشکیل شده روی یک سطح صاف باشد. حداکثر زبری سطح باید 5 میکرون باشد.

    نقد و بررسی میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)
    فقط خریداران این محصول می توانند نقد و بررسی ثبت کنند